全反射X射线荧光分析仪TXRF技术可以对从氧到铀的所有元素进行分析，一次可以对近30种元素进行同时分析，这是原子吸收谱仪中的ETAAS和FAAS方法难以做到的。

优质供应全反射X射线荧光光谱仪将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，角度测量，软件控制Mo/W靶可自由切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。

便携式全反射X射线荧光光谱仪将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，角度测量，软件控制Mo/W靶可自由切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。

能量色散型X射线荧光分析仪XRF9在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

XRF9能量色散X射线荧光分析仪采用薄样技术与厚样技术相结合的方式，既可以对大量样品进行无损检测，也可以对块状固体，固体粉末和液体样品等进行实验室级别的元素分析。特别适宜于针对RoHS指令的多元素测试。