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XRF9能量色散X射线荧光分析仪

  • 型   号:
  • 更新时间:2019-09-23

XRF9能量色散X射线荧光分析仪采用薄样技术与厚样技术相结合的方式,既可以对大量样品进行无损检测,也可以对块状固体,固体粉末和液体样品等进行实验室级别的元素分析。特别适宜于针对RoHS指令的多元素测试。

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     XRF9能量色散X射线荧光分析仪采用薄样技术与厚样技术相结合的方式,既可以对大量样品进行无损检测,也可以对块状固体,固体粉末和液体样品等进行实验室级别的元素分析。特别适宜于针对RoHS指令的多元素测试。

XRF9能量色散X射线荧光分析仪物理原理
     当材料暴露在短波长X光检查,或伽马射线,其组成原子可能发生电离,如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势,足以驱逐内层轨道的电子,然而这使原子的电子结构不稳定,在外轨道的电子会“回补”进入低轨道,以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源,光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此,物质放射出的辐射,这是原子的能量特性。

特点:

· 采用多光束可调节系统

· 高分辨率探测器

· 采用XYZ三维运动样品台

· 大型样品分析室

· CCD摄像及自动定位系统

· 自动调节双层六通道滤光系统

主要技术指标

分析原理 能量色散X射线荧光分析法

分析元素 Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)

Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)

检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm

样品形状 最大460×380mm(高150mm)

样品 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体

样品室气氛 大气

X射线管 靶材 Rh

管电压 最大50KV

管电流 最大1mA

X射线照射径   1/3/5mm

防护 <0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕)

检测器 硅SIPIN探测器

光学图像观察   倍率15倍

软件 定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移)

照射径: 1/3/5mm

定量分析: 基础参数法/标准法/1点校正

计算机 CPU PentiumIV1.8GHz以上

内存 256MB以上

硬盘 20GB以上

OS WindowXP

监视器 17寸LCD

周围温度 10~35。C(性能温度)/5~40。C(动作温度)

周围湿度 5~31。C时温度范围:最大相对湿度80%以下

31~40。C时温度范围:相对湿度50%以下

电源 AC110V/220V±10%、50/60HZ

消耗电力 1.3KVA以下(含计算机、LCD、打印机)

设备重量 约65kg(不含桌子、计算机)

外形寸法 600(W)×545(D)×435(H)mm


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